Поиск


Текущие фильтры:



Начать новый поиск
Добавить фильтры:

Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.


Результаты 1-10 из 85.
Найденные ресурсы:
Дата выпускаНазваниеАвтор(ы)
2018Технологическое обеспечение отражательной способности зеркал лазерных установокШкурупий В. Г.; Новиков Ф. В.; Шкурупій В. Г.; Новіков Ф. В.; Shkurupiy V. G.; Novikov F. V.
2019Технологические решения по повышению светоотражательной способности поверхностных слоев деталейНовиков Ф. В.; Шкурупий В. Г.; Новіков Ф. В.; Шкурупій В. Г.; Novikov F. V.; Shkurupiy V. G.
2018Технология изготовления деталей с большой поглощательной способностью поверхностейШкурупий В. Г.; Новиков Ф. В.; Шкурупій В. Г.; Новіков Ф. В.; Shkurupiy V. G.; Novikov F. V.
2000Особенности технологии изготовления пружинных штанг космических летательных аппаратов (КЛА)Шкурупий В. Г.; Шкурупий Ю. В.; Шкурупій В. Г.; Шкурупій Ю. В.; Shkurupiy V. G.; Shkurupiy Y. V.
2000Финишная обработка поверхностей тонкостенных деталейШкурупий В. Г.; Шкурупий Ю. В.; Шкурупій В. Г.; Шкурупій Ю. В.; Shkurupiy V. G.; Shkurupiy Y. V.
2017Технологическое обеспечение параметров качества обрабатываемых поверхностей деталей с оптическими характеристикамиШкурупий В. Г.; Новиков Ф. В.; Шкурупій В. Г.; Новіков Ф. В.; Shkurupiy V. G.; Novikov F. V.
2017Технологическое обеспечение оптически функциональных поверхностей металлоизделийШкурупий В. Г.; Новиков Ф. В.; Шкурупій В. Г.; Новіков Ф. В.; Shkurupiy V. G.; Novikov F. V.
2017Условия уменьшения высоты микронеровностей и повышения оптических свойств обрабатываемых поверхностей деталей, работающих в условиях воздействия солнечной радиацииШкурупий В. Г.; Шкурупій В. Г.; Shkurupiy V. G.
2017Основные направления уменьшения высоты микронеровностей и повышения оптических свойств обрабатываемых поверхностей деталей в условиях воздействия солнечной радиацииШкурупий В. Г.; Шкурупій В. Г.; Shkurupiy V. G.
2000Технология изготовления выдвижных упругих элементовШкурупий В. Г.; Шкурупий Ю. В.; Шкурупій В. Г.; Шкурупій Ю. В.; Shkurupiy V. G.; Shkurupiy Y. V.