Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://repository.hneu.edu.ua/handle/123456789/15978
Название: К вопросу о повышении точности метода частичных отражений
Другие названия: До питання про підвищення точності методу часткових відбиттів
To the question of increasing the accuracy of the method of partial reflections
Авторы: Гоков А. М.
Гоков О. М.
Gokov O. M.
Ключевые слова: модельные расчеты
метод частичных отражений
повышение точности метода
ионосфера
профили плотности электронов
модельні розрахунки
метод часткових відбиттів
підвищення точності методу
іоносфера
профілі щільності електронів
model calculations
the method of partial reflections
increasing the accuracy of the method
ionosphere
electron density profiles
Дата публикации: 1986
Библиографическое описание: Гоков А. М. К вопросу о повышении точности метода частичных отражений / А. М. Гоков // Вестник Харьковского государственного университета. – 1986. – № 285: Радиофизика и электроника. – С. 54–57.
Краткий осмотр (реферат): На основе экспериментальных исследований установлены основные источники отличия экспериментальных профилей плотности электронов от теоретических. С помощью модельных расчетов установлены возможности повышения точности метода частичных отражений.
На основі експериментальних досліджень встановлено основні джерела відмінності експериментальних профілів щільності електронів від теоретичних. За допомогою модельних розрахунків встановлені можливості підвищення точності методу часткових відбиттів.
On the basis of experimental studies, the main sources for distinguishing the experimental electron density profiles from the theoretical ones are established. With the help of model calculations, it is possible to increase the accuracy of the method of partial reflections.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://www.repository.hneu.edu.ua/jspui/handle/123456789/15978
Располагается в коллекциях:Статті (ЗСЖіБЖ)

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Гоков_Вестник ХГУ 1986 285.pdf727,28 kBAdobe PDFЭскиз
Просмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.