1. Repository Simon Kuznets Kharkiv National University of Economics

Пошук


Почати новий пошук
Додати фільтри:

Використовуйте фільтри для уточнення результатів пошуку.

 | 
Результати 2401-2410 зі 4258 (час пошуку: 0.022 секунди).
Знайдені матеріали:
Дата випускуНазваАвтор(и)
2017Стресостійкість як професійно важлива якість операторів транспортної галузіМигаль Г. В.; Протасенко О. Ф.; Mygal G. V.; Protasenko O. F.
2017Патент на корисну модель № 114169 «Пристрій для гальванічної обробки виробів електроконтактним методом»Шкурупій В. Г.; Новіков Ф. В.; Смирний М. Ф.; Шкурупий В. Г.; Новиков Ф. В.; Смирный М. Ф.; Shkurupiy V. G.; Novikov F. V.; Smyrnyi M. F.
2017Патент на корисну модель № 114139 «Прилад для вимірювання температури стінки сушильного циліндра»Новіков Ф. В.; Смирний М. Ф.; Гоков О. М.; Горбик А. Ю.; Новиков Ф. В.; Смирный М. Ф.; Гоков А. М.; Novikov F. V.; Smyrnyi M. F.; Gokov O. M.; Gorbyk A. Y.
2017Патент на корисну модель № 114154 «Спосіб глибинного шліфування циліндричної деталі»Новіков Ф. В.; Смирний М. Ф.; Новиков Ф. В.; Смирный М. Ф.; Novikov F. V.; Smyrnyi M. F.
2017Рабочая тетрадь по тренинг-курсу «Безопасность жизнедеятельности» для студентов всех специальностей первого (бакалаврского) уровняПротасенко О. Ф.; Ивашура А. А.; Івашура А. А.; Protasenko O. F.; Ivashura A. A.
2015Підвищення ефективності процесу виходжування при шліфуванніДитиненко С. О.; Новіков Г. В.; Дитиненко С. А.; Новиков Г. В.; Ditinenko S. O.; Novikov G. V.
2015Технологічне забезпечення точності й шорсткості поверхні при обробці отворуНовіков Ф. В.; Минчев Р. М.; Новиков Ф. В.; Novikov F. V.; Minthev R. M.
2003Системы технологийГринева В. Н.; Дудко П. Д.; Пономаренко В. С.; Тимонин А. М.; Крюк А. Г.; Савченко Н. Ф.; Чистяк В. Г.; Шкурупий В. Г.; Гриньова В. М.; Дудко П. Д.; Пономаренко В. С.; Тімонін О. М.; Крюк А. Г.; Савченко М. Ф.; Чистяк В. Г.; Шкурупій В. Г.; Grinyova V. M.; Dudko P. D.; Ponomarenko V. S.; Timonin O. M.; Kriuk A. G.; Savchenko M. F.; Thistyak V. G.; Shkurupiy V. G.
2000Системи технологійПономаренко В. С.; Сіроштан М. А.; Бєлявцев М. І.; Дудко П. Д.; Тімонін О. М.; Пономаренко В. С.; Сироштан Н. А.; Белявцев Н. И.; Дудко П. Д.; Тимонин А. М.; Ponomarenko V. S.; Siroshtan M. A.; Byelyavtsev M. I.; Dudko P. D.; Timonin O. M.
2003On the Accuracy Increase of Determining the Lower Ionosphere Parameters Using Amplitude Measurements of Partially Reflected SignalsGokov A. M.; Гоков А. М.; Гоков О. М.

Розкриття