Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://repository.hneu.edu.ua/handle/123456789/15978Повний запис метаданих
| Поле DC | Значення | Мова |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Гоков А. М. | - |
| dc.contributor.author | Гоков О. М. | - |
| dc.contributor.author | Gokov O. M. | - |
| dc.date.accessioned | 2017-04-28T10:24:01Z | - |
| dc.date.available | 2017-04-28T10:24:01Z | - |
| dc.date.issued | 1986 | - |
| dc.identifier.citation | Гоков А. М. К вопросу о повышении точности метода частичных отражений / А. М. Гоков // Вестник Харьковского государственного университета. – 1986. – № 285: Радиофизика и электроника. – С. 54–57. | en_US |
| dc.identifier.uri | http://www.repository.hneu.edu.ua/jspui/handle/123456789/15978 | - |
| dc.description.abstract | На основе экспериментальных исследований установлены основные источники отличия экспериментальных профилей плотности электронов от теоретических. С помощью модельных расчетов установлены возможности повышения точности метода частичных отражений. | en_US |
| dc.description.abstract | На основі експериментальних досліджень встановлено основні джерела відмінності експериментальних профілів щільності електронів від теоретичних. За допомогою модельних розрахунків встановлені можливості підвищення точності методу часткових відбиттів. | en_US |
| dc.description.abstract | On the basis of experimental studies, the main sources for distinguishing the experimental electron density profiles from the theoretical ones are established. With the help of model calculations, it is possible to increase the accuracy of the method of partial reflections. | en_US |
| dc.language.iso | ru | en_US |
| dc.subject | модельные расчеты | en_US |
| dc.subject | метод частичных отражений | en_US |
| dc.subject | повышение точности метода | en_US |
| dc.subject | ионосфера | en_US |
| dc.subject | профили плотности электронов | en_US |
| dc.subject | модельні розрахунки | en_US |
| dc.subject | метод часткових відбиттів | en_US |
| dc.subject | підвищення точності методу | en_US |
| dc.subject | іоносфера | en_US |
| dc.subject | профілі щільності електронів | en_US |
| dc.subject | model calculations | en_US |
| dc.subject | the method of partial reflections | en_US |
| dc.subject | increasing the accuracy of the method | en_US |
| dc.subject | ionosphere | en_US |
| dc.subject | electron density profiles | en_US |
| dc.title | К вопросу о повышении точности метода частичных отражений | en_US |
| dc.title.alternative | До питання про підвищення точності методу часткових відбиттів | en_US |
| dc.title.alternative | To the question of increasing the accuracy of the method of partial reflections | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| Розташовується у зібраннях: | Статті (ЗСЖБЖ) | |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Гоков_Вестник ХГУ 1986 285.pdf | 727,28 kB | Adobe PDF |  Переглянути/відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.