Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://repository.hneu.edu.ua/handle/123456789/19144
Назва: Пат. № 125594 Спосіб одночасного визначення концентрації та частоти зіткнень електронів у нижній іоносфері
Інші назви: Пат. № 125594. Способ одновременного определения концентрации и частоты столкновений электронов в нижней ионосфере
Patent No. 125594. The method of simultaneous determination of the concentration and frequency of collisions of electrons in the lower ionosphere
Автори: Гоков О. М.
Смирний М. Ф.
Гоков А. М.
Gokov O. M.
Smyrnyi M. F.
Теми: нижня іоносфера
концентрація та частота зіткнень електронів
частично отраженные сигналы
нижняя ионосфера
концентрация и частота столкновений электронов
частично отраженные сигналы
lower ionosphere
electron concentration and frequency of electron collisions
partially reflected signals
Дата публікації: 2018
Бібліографічний опис: Пат. № 125594 Україна. Спосіб одночасного визначення концентрації та частоти зіткнень електронів у нижній іоносфері / Гоков О. М., Смирний М. Ф. – № u 2018 00272 ; заяв. 09.01.2018 ; опубл. 10.05.2018, Бюл. № 9.
Короткий огляд (реферат): Подано метод одночасного визначення концентрації N та частоти зіткнень електронів v у нижній іоносфері Земли з метою розширення досліджуваного висотного діапазону, усунення та істотного зменшення похибок, викликаних стратификацией неоднорідностей N і неповним збігом обсягів розсіювання звичайної "o" і незвичайною "x" магнітоіонних компонент частково відбитих сигналів. Значення N і v при цьому визначаються на окремих висотах z за вимірюваннями амплітуд ЧВ сигналів для звичайної "o" і незвичайною "x" магнітоіонних компонент відповідно на трьох декілька відмінних частотах f1, f2 і f3. Предложен метод одновременного определения концентрации N и частоты столкновений электронов v в нижней ионосфере Земли с целью расширения исследуемого высотного диапазона, устранения и существенного уменьшения погрешностей, вызванных стратификацией неоднородностей N и неполным совпадением объемов рассеяния обыкновенной “o” и необыкновенной “x” магнитоионных компонент частично отраженных сигналов. Значения N и v при этом определяются на отдельных высотах z по измерениям амплитуд ЧО сигналов для обыкновенной “o” и необыкновенной “x” магнитоионных компонент соответственно на трех несколько отличных частотах f1, f2 и f3. A method is proposed for simultaneous determination of the concentration N and the electron collision frequency v in the lower ionosphere of the Earth in order to expand the investigated altitude range, eliminate and significantly reduce the errors caused by the stratification of the inhomogeneities N and the incomplete coincidence of the scattering volumes of the ordinary "o" and extraordinary "x" magnetoionic components of partially reflected signals. The values of N and v in this case are determined at separate heights z from the measurements of the signal amplitudes for the ordinary "o" and extraordinary "x" magnetoionic components, respectively, at three slightly different frequencies f1, f2 and lower ionosphere, electron concentration and frequency of electron collisions f3.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://www.repository.hneu.edu.ua/handle/123456789/19144
Розташовується у зібраннях:Патенти (ЗСЖіБЖ)

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Гоков_Патент № 114111.pdf258,36 kBAdobe PDFЕскіз
Переглянути/відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.