Please use this identifier to cite or link to this item:
http://repository.hneu.edu.ua/handle/123456789/15978| Title: | К вопросу о повышении точности метода частичных отражений |
| Other Titles: | До питання про підвищення точності методу часткових відбиттів To the question of increasing the accuracy of the method of partial reflections |
| Authors: | Гоков А. М. Гоков О. М. Gokov O. M. |
| Keywords: | модельные расчеты метод частичных отражений повышение точности метода ионосфера профили плотности электронов модельні розрахунки метод часткових відбиттів підвищення точності методу іоносфера профілі щільності електронів model calculations the method of partial reflections increasing the accuracy of the method ionosphere electron density profiles |
| Issue Date: | 1986 |
| Citation: | Гоков А. М. К вопросу о повышении точности метода частичных отражений / А. М. Гоков // Вестник Харьковского государственного университета. – 1986. – № 285: Радиофизика и электроника. – С. 54–57. |
| Abstract: | На основе экспериментальных исследований установлены основные источники отличия экспериментальных профилей плотности электронов от теоретических. С помощью модельных расчетов установлены возможности повышения точности метода частичных отражений. На основі експериментальних досліджень встановлено основні джерела відмінності експериментальних профілів щільності електронів від теоретичних. За допомогою модельних розрахунків встановлені можливості підвищення точності методу часткових відбиттів. On the basis of experimental studies, the main sources for distinguishing the experimental electron density profiles from the theoretical ones are established. With the help of model calculations, it is possible to increase the accuracy of the method of partial reflections. |
| URI: | http://www.repository.hneu.edu.ua/jspui/handle/123456789/15978 |
| Appears in Collections: | Статті (ЗСЖіБЖ) |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Гоков_Вестник ХГУ 1986 285.pdf | 727,28 kB | Adobe PDF |  View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.