1. Repository Simon Kuznets Kharkiv National University of Economics

Пошук


Почати новий пошук
Додати фільтри:

Використовуйте фільтри для уточнення результатів пошуку.

 | 
Результати 3261-3270 зі 4270 (час пошуку: 0.016 секунди).
Знайдені матеріали:
Дата випускуНазваАвтор(и)
2008Аналитическое определение параметров силовой напряженности процесса резания с учетом резания на передней поверхности инструмента равномерно распределенной нагрузкиНовиков Ф. В.; Кленов О. С.; Снисаренко И. Н.; Новіков Ф. В.; Снісаренко І. М.; Novikov F. V.; Klenov O. S.; Snisarenko I. M.
2016Экспериментальное устройство для подачи пульсирующих воздушных струй с независимой установкой частоты и скважностиАндилахай А. А.; Новиков Ф. В.; Анділахай О. О.; Новіков Ф. В.; Andilakhay O. O.; Novikov F. V.
2012Ефективна технологія струминно-абразивної поверхневої обробки дрібних деталей малої жорсткостіНовіков Ф. В.; Анділахай О. О.; Новиков Ф. В.; Андилахай А. А.; Novikov F. V.; Andilakhay O. O.
2007Высыпания высокоэнергичных заряженных частиц в среднеширотной D области ионосферы.Гоков А. М.; Гоков О. М.; Gokov O. M.
2016Закономерности формирования шероховатости поверхности при абразивной обработке и условия ее уменьшенияРябенков И. А.; Новиков Ф. В.; Андилахай А. А.; Рябенков І. О.; Новіков Ф. В.; Анділахай О. О.; Riabenkov I. A.; Novikov F. V.; Andilakhay O. O.
2015Патент України № 99095 «Пристрій для вимірювання різниці температур»Смирний М. Ф.; Смирный М. Ф.; Smyrnyi M. F.
2015Патент України № 99094 «Перетворювач лінійної швидкості»Смирний М. Ф.; Смирный М. Ф.; Smyrnyi M. F.
1982Особенности анализа шероховатости отражающих поверхностей, обработанных резаниемШкурупий В. Г.; Шкурупій В. Г.; Shkurupiy V. G.
2006Особенности вариации концентрации электронов в среднеширотной D области ионосферы в период сильных геомагнитных бурь в 2005 г.Гоков А. М.; Тырнов О. Ф.; Гоков О. М.; Тирнов О. Ф.; Gokov O. M.; Tyrnov O. F.
1983Аналитическое описание механизма износа алмазного кругаРаб А. Ф.; Новиков Ф. В.; Раб О. Ф.; Новіков Ф. В.; Rab A. F.; Novikov F. V.

Розкриття