К определению электронной концентрации D–области ионосферы по амплитудным измерениям частично отраженных сигналов
Вантажиться...
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Анотація
Приведено развитие традиционной методики дифференциального поглощения определения высотных профилей плотности электронов в нижней ионосфере по измерениям методом частичных отражений.
Наведено розвиток традиційної методики диференціального поглинання визначення висотних профілів щільності електронів в нижній іоносфері за вимірюваннями методом часткових відбиттів.
Given development of traditional methods of differential absorption determining the height profiles of the electron density in the lower ionosphere by measuring method of partial reflections.
Наведено розвиток традиційної методики диференціального поглинання визначення висотних профілів щільності електронів в нижній іоносфері за вимірюваннями методом часткових відбиттів.
Given development of traditional methods of differential absorption determining the height profiles of the electron density in the lower ionosphere by measuring method of partial reflections.
Опис
Ключові слова
высотный профиль плотности электронов, нижняя ионосфера, методика дифференциального поглощения, метод частичных отражений, висотний профіль щільності електронів, нижня іоносфера, методика диференціального поглинання, метод часткових відбиттів, height profile of the electron density, the lower ionosphere, the technique of differential absorption, a method of partial reflections
Бібліографічний опис
Гоков А. М. К определению электронной концентрации D–области ионосферы по амплитудным измерениям частично отраженных сигналов / А. М. Гоков, Л. А. Пивень, Ю. П. Федоренко // Радиотехника: Всеукр. межвед. научно-техн. сб. – Харьков, 1990. – Вып. 9.– C. 108 – 111.