Основные направления уменьшения высоты микронеровностей и повышения оптических свойств обрабатываемых поверхностей деталей в условиях воздействия солнечной радиации

Abstract

Показано, что при предварительной обработке поверхностей деталей машин и достижении минимальных значений высотных параметров шероховатости поверхности контроль обработанной поверхности необходимо осуществлять путем оценки критерия шероховатости поверхности F. После финишных методов обработки контроль обработанной поверхности необходимо осуществлять путем оценки работы выхода электронов (значений контактной разности потенциалов - КРП).Показано, що при попередній обробці поверхонь деталей машин і досягненні мінімальних значень висотних параметрів шорсткості поверхні контроль обробленої поверхні необхідно здійснювати шляхом оцінки критерію шорсткості поверхні F. Після фінішних методів обробки контроль обробленої поверхні необхідно здійснювати шляхом оцінки роботи виходу електронів (значень контактної різниці потенціалів - КРП).It is shown that when the surfaces of machine parts are preliminarily processed and the minimum values of the surface roughness parameters are reached, the control of the treated surface must be carried out by evaluating the criterion for the surface roughness F. After the final processing methods, the control of the treated surface must be carried out by estimating the work function of the electrons (contact potential difference values - КРП).