К вопросу о повышении точности метода частичных отражений
Вантажиться...
Автори
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Анотація
На основе экспериментальных исследований установлены основные источники отличия экспериментальных профилей плотности электронов от теоретических. С помощью модельных расчетов установлены возможности повышения точности метода частичных отражений.
На основі експериментальних досліджень встановлено основні джерела відмінності експериментальних профілів щільності електронів від теоретичних. За допомогою модельних розрахунків встановлені можливості підвищення точності методу часткових відбиттів.
On the basis of experimental studies, the main sources for distinguishing the experimental electron density profiles from the theoretical ones are established. With the help of model calculations, it is possible to increase the accuracy of the method of partial reflections.
На основі експериментальних досліджень встановлено основні джерела відмінності експериментальних профілів щільності електронів від теоретичних. За допомогою модельних розрахунків встановлені можливості підвищення точності методу часткових відбиттів.
On the basis of experimental studies, the main sources for distinguishing the experimental electron density profiles from the theoretical ones are established. With the help of model calculations, it is possible to increase the accuracy of the method of partial reflections.
Опис
Ключові слова
модельные расчеты, метод частичных отражений, повышение точности метода, ионосфера, профили плотности электронов, модельні розрахунки, метод часткових відбиттів, підвищення точності методу, іоносфера, профілі щільності електронів, model calculations, the method of partial reflections, increasing the accuracy of the method, ionosphere, electron density profiles
Бібліографічний опис
Гоков А. М. К вопросу о повышении точности метода частичных отражений / А. М. Гоков // Вестник Харьковского государственного университета. – 1986. – № 285: Радиофизика и электроника. – С. 54–57.