Please use this identifier to cite or link to this item: http://repository.hneu.edu.ua/handle/123456789/14411
Title: Аналитическое описание и технологическое обеспечение параметров шероховатости обработки
Other Titles: Аналітичний опис і технологічне забезпечення параметрів шорсткості обробки
Analytical description and technological support for processing roughness
Authors: Шкурупий В. Г.
Новиков Ф. В.
Шкурупій В. Г.
Новіков Ф. В.
Shkurupiy V. G.
Novikov F. V.
Keywords: шероховатость поверхности
эксплуатационные свойства деталей
параметры шероховатости обработки
шорсткість поверхні
експлуатаційні властивості деталей
параметри шорсткості обробки
surface roughness performance properties parts roughness processing parameters
Issue Date: 2004
Citation: Шкурупий В. Г. Аналитическое описание и технологическое обеспечение параметров шероховатости обработки / В. Г. Шкурупий, Ф. В. Новиков // Резание и инструмент в технологических системах: Междунар. научн.-техн. сборник. – Харьков: НТУ “ХПИ”, 2004. – Вып. 67. – С. 46 – 56.
Abstract: Дана общая характеристика параметров шероховатости поверхности, проанализированы подходы к аналитическому описанию шероховатости поверхности и показана взаимосвязь эксплуатационных свойств деталей с параметрами шероховатости обработки.
Надано загальну характеристику параметрів шорсткості поверхні, проаналізовано підходи до аналітичного опису шорсткості поверхні і показано взаємозв'язок експлуатаційних властивостей деталей з параметрами шорсткості обробки.
The general characteristic of surface roughness parameters, analyzed approaches to analytical description of surface roughness and shows the relationship of operating properties of parts with processing parameters roughness.
URI: http://www.repository.hneu.edu.ua/jspui/handle/123456789/14411
Appears in Collections:Статті (ЗСЖіБЖ)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
статья (174) Рез, 2004-67, стр 46-56.pdf205,98 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.